2019/04/14
【概要】 二次イオン質量分析法（SIMS）という測定をするための、測定試料を固定するためのホルダー
【素材】 SUS310S
【使用機材】 ワイヤ放電加工機、CNCフライス盤
【納品先】 国立研究開発法人 海洋研究開発機構（JAMSTEC）殿
【加工に掛かった日数】 約7日
【担当者からのコメント】 ホルダ下端に0.1mm厚の壁を残すための、加工方法や冶具の製作などを工夫しました。
【試作品PR】 測定する試料の大きさや形状など、依頼者のご希望に沿えるよう製作いたします。
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